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電池芯片老化高低溫試驗箱廠家可以用來考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度變化的環(huán)境條件下貯存和使用的適應性。設備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響，設備內(nèi)壁各部分溫度與試驗規(guī)定的溫度之差不大于8％，且試驗樣品不會受到設備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。
高低溫試驗箱廠家參 照 標 準
本產(chǎn)品滿足GB2423.1－2001試驗A《高溫試驗方法》; GB2423.2－2001試驗B《低溫試驗方法》以及其它相關標準的要求。嚴格按GB 10592—89《高低溫試驗箱技術條件》進行設計制造，可進行相應高、低溫環(huán)境試驗。
高低溫試驗箱廠家主要技術參數(shù)
電池芯片老化高低溫試驗箱廠家產(chǎn)品特點:
1、箱體外膽采用SECC鋼板噴塑，數(shù)控機床加工成型，造型美觀大方、新穎并采用無反作用把手，操作簡便。
2、采用微電腦溫度濕度控制器，控溫控濕準確可靠。
3、大型觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且采用三層真空玻璃，隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。
4、設有獨立限溫報警系統(tǒng)，超過限制溫度即自動中斷，確保實驗安全運行不發(fā)生意外。
5、試驗箱箱體左側配直徑50mm的測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。
6、機器底部采用高品質可固定式PU活動輪。
二，Y-HZ-100L高低溫試驗箱
標準型號和尺寸（也可按客戶要求生產(chǎn)）（單位:mm）：
型號 Y-HE-80G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 450×500×400 外形尺寸：650×1500×950
型號 Y-HE-150G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×600×500 外形尺寸：750×1600×1050
型號 Y-HE-225G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×750×600 外形尺寸：1000×1650×1200
型號 Y-HE-408G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 600×850×800 外形尺寸：1100×1750×1400
型號 Y-HE-800G 內(nèi)形尺寸:W×H×D 1000×1000×800 外形尺寸：1500×1900×1400
型號 Y-HE-1000G內(nèi)形尺寸:W×H×D 1000×1000×1000外形尺寸：1500×1900×1600